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This book addresses the growing importance of uncertainty in chip parameters in deep submicron technology. It advocates for a shift from deterministic to probability-oriented design processes for microelectronic circuits. Readers will learn to assess variations and optimize designs using suitable methods and tools.
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Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design, 1, Manfred Dietrich, Joachim Haase
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- 2014
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- (In brossura)
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