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Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau

Autori

Manuela Klaus

Parametri

117pagine
5 ore di lettura

Raggi X

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Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau, Manuela Klaus

Lingua
Pubblicato: 2009
Rilegatura: (In brossura)

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Titolo: Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau
Lingua: Tedesco
Autori: Manuela Klaus
Editore: Univ.-Verl. der TU Berlin
Pubblicato: 2009
Formato: In brossura
Pagine: 117
ISBN10: 3798321450
ISBN13: 9783798321458
Serie
Tag: Libri di testo universitari, Raggi X