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X-ray Methods In The Study Of Defects in Single Crystal, J. Auleytner
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- Pubblicato
- Rilegatura
- (Copertina rigida),
- Condizioni del libro
- Danneggiato
- Prezzo
- 5,43 €
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- Lingua
- Inglese
- Autori
- J. Auleytner
- Editore
- PWN
- Formato
- Copertina rigida
- Serie